X荧光光谱仪结果受到什么影响

文章出处：人气：发布时间：2021-3-2 13:58:04

　　X荧光光谱法是用X光线照射待检测物品，通过分析X射线中的信息来确定其中的成分，这种光谱仪器的结果与大多光谱仪一样会受到环境的变化而造成误差。

　　首先，被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大差异，被测样品表面有镀层或经化学处理，测量时间,样品的形状,样品测量的面积。制样的好坏、标准曲线、参照标准、软件补偿、X射线荧光光谱仪种类：波长或能量或全反射类型等。还有温度、湿度等自然因素。

　　材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如第一层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有无限厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。这样误差看你每层的厚度了，如果每层都很薄，比如几个微米那么影响会较小。如果每一层达到几十比如50微米以上，那么影响就会较大。