TY系列古董分析的仪器,主要用于古董元素指纹识别,可进行比对分析,来达到鉴定真品的作用,一次性可同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量,同时,为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性,我公司特意根据行业需要可定制作超大型抽真空样品腔,以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
TY系列仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化学成份和金属镀层厚度,做到一机多用,是古文物检测必备的科学检测仪器。
技术指标:
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
分析精度:0.05%
同时分析元素:同时可以分析30种以上元素
测量镀层:镀层厚度测量最薄至0.001um
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
输入电压:AC 110V/220V
消耗功率:200W
环境温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
标准配置:
超薄窗大面积的原装进口Si-pin/SDD探测器
超高信噪增强器
多套准直器和滤光片系统
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
无标样分析模型
智能基体效应校正
多重安全保护模式
应用领域:
古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚